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對問題追根朔源,然精準觸手可及

絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統
    發布時間: 2022-08-17 17:24    

面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝,因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動,可高精度連續監測,高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。適用標準:JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F
、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。

絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統

產品信息




                        高精準測量
自主開發連續通電掃描繼電器方式,配備國際標準的測量儀表,與環境試驗箱聯動,操作更簡便更安全。
應力電壓范圍廣泛
標配100V應力電壓(應力電壓/測量電壓),更有300V、500V高電壓規格備選。
連續通電掃描方式
ESPEC獨有掃描動作技術,切換掃描時不發生無電壓狀態,測量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制,可準確控制電壓。
漏電流檢測功能
高速準確捕捉離子遷移現象發生的細微變化,離子遷移實時監測。
專用統計軟件
「E-Graph」可實時編輯預覽監測實時獲得的數據。
專用連接樣件夾具

選配可使連接樣品及線纜更方便,試驗效率更高


型號 標準100V規格 300V規格(選購件) 500V規格(選購件)
通道構成 標準25ch(最多至150ch) 標準25ch(最多至150ch)
控制方式 5ch 25ch 5ch 25ch 5ch 25ch
系統 windows 7 windows 7
測量性能 偏置電壓 偏置電壓 無加載、1.0~100V DC 無加載、1.0~300V DC 無加載、1.0~500V DC
最小分辨率 0.1V
(1.0~100V,可與測量電壓分開設定)
0.1V(設定為1~200V時)
1.0V(設定為200~300V時)
0.1V(設定為1~200V時)
1.0V(設定為200~500V時)
加載電壓精度 ±(設定值的0.7%+300mV) ±(設定值的0.7%+300mV)
電阻判定及測量時間 直流電流測量范圍※1 0.1fA~20mA(最高分辨率:0.1fA) 0.1fA~20mA(最高分辨率:0.1fA)※2
電阻測量范圍(Ω) 2.0×105~1.0×1013(加載100V時)
2.0×103~1.0×1011(加載1V時)
2.0×105~1.0×1013(加載300V時)
2.0×103~1.0×1011(加載1V時)
2.0×105~1.0×1013(加載500V時)
2.0×103~1.0×1011(加載1V時)
測量精度※1 ±1.015%(20pA量程、全量程) ±1.015%(20pA量程、全量程)
測量電壓 1.0~100V DC(0.1V/步) 1.0~300V DC
(1.0~200V:0.1V/步)
(200~300V:1.0V/步)
1.0~500V DC
(1.0~200V:0.1V/步)
(200~500V:1.0V/步)
測量時間(1次)※3 15秒+充電時間 80秒+充電時間 15秒+充電時間 80秒+充電時間 15秒+充電時間 80秒+充電時間
漏電流測出功能 不間斷,100μsec以內測出 不間斷,100μsec以內測出
測量電纜 種類  +極 單芯電纜 耐熱單芯電纜
 -極 同軸電纜(防護結構) 同軸電纜(防護結構)
包覆材質 特氟隆(耐熱+150℃) 特氟隆(耐熱+150℃)
長度 掃描單元至中轉連接器:2.5m
中轉連接器開始:1.5m
掃描單元至中轉連接器:2.5m
中轉連接器開始:1.5m
中轉連接器 可連接25通道
同軸連接器
可連接25通道
+極:金屬插座   -極:方型同軸連接器
測量儀表 型號:6514
(吉利時儀器公司制造)
型號:6514
(吉利時儀器公司制造)
外尺寸 W530×H1750×D940mm W530×H1750×D940mm
電源 100V AC,1φ10.A
120V AC,1φ8.3A
220V AC,1φ4.5A
240V AC,1φ4.2A
100V AC,1φ10.A
120V AC,1φ8.3A
220V AC,1φ4.5A
240V AC,1φ4.2A


※1 顯示的是測量儀表的測量精度及直流電流測量范圍。系統的測量精度請參考精度分布圖。



※2 高電壓偏置用中轉連接器內,在每個通道的正電壓加載側串連了1KΩ的電阻,電流流過試樣損失會造成的電壓稍許下降。


    此微小電壓下降沒有包含在加載電壓精度中。





※3 偏置電壓與測量電壓相同時,則充電時間為零。




   


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